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CS系列分光輻射度計其核心一是應用HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探測器，二是對稱式低雜散光光路設計。相對于一般的高精度快速光譜儀，具有高靈敏度、低雜散光、寬動態范圍、高重復性穩定性等優點。是用于公司科研、國家地方光電實驗室以及專業檢測機構等的光學特性測量的理想選擇。
采用HAMAMATSU科研級高靈敏度陣列探測器，背照式CCD傳感器，具有內部TE致冷、BINNING等優良特性。
多種型號選擇滿足你不同的應用需求：
工業級CS-4000，多種波長范圍選擇，價格經濟，通過一系列可以互換的光測量附件即可輕松實現定制化。
科研級CS-6500，采用二維陣列探測器，多種波長范圍選擇。像素列的疊加使得信噪比大大提升（37000：1），外圍電路將信號數字化添加使得探測器的信號處理速度與其他線性CCD相比更為快速。TE制冷型探測器（最低至-15 °C）具有低噪音、低暗信號的特點，低亮度級別測試、長積分時間從8毫秒到15分鐘（類似于照相機的快門速度）得以實現。
實驗級CS-4500，采用二維陣列探測器，多種波長范圍選擇，具有強大的電子系統:帶有自動清零功能的16位A/D轉換器(增強的電子暗電流校正);采用EEPROM存儲校正系數,方便操作;電子快門可使積分時間最短達到10毫秒--有效地避免探測器飽和，而且CS-4500的信噪比可以達到4700:1，光學分辨率(FWHM)為0.03-8.4nm(依賴于選用的光柵和入射狹縫)。
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型號 |
CS-4000 |
CS-4500 |
CS-6500 |
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探測器范圍 |
300-1100納米 |
300-1100納米 |
300-1100納米 |
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傳感器 |
CMOS傳感器 |
熱電制冷面陣CCD（薄型背照式） |
熱電制冷面陣CCD（薄型背照式） |
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像素 |
3648像素 |
2048*64像素 |
1024×64像素 |
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波長范圍 |
350-850納米 |
350-1050納米 |
360-930納米 |
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信噪比 |
300：1全光譜 |
4700：1全光譜 |
37000:1全光譜 |
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A/D分辨率 |
16位 |
16位 |
16位 |
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積分時間 |
3.8毫秒-10秒 |
10毫秒-65秒 |
8毫秒-65分鐘 |
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制冷 |
—- |
0° |
-10° |
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雜散光 |
<0.05% |
<0.05% |
<0.05% |
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校正線性度 |
>99.8% |
>99.8% |
>99.8% |
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色溫范圍 |
1500-35000K |
1500-35000k |
1500-35000K |
|
亮度范圍* |
0.1~100000cd/m^2 |
0.005~100000cd/m^2 |
0.001~100000cd/m^2 |
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亮度精度 |
+/-2%（@標準A光源） |
+/-2%（@標準A光源） |
+/-2%（@標準A光源） |
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亮度重復性 |
+/-0.1%（@標準A光源） |
+/-0.1%（@標準A光源） |
+/-0.1%（@標準A光源） |
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色度精度 |
±0.0003（標準A光源） |
±0.0003(標準A光源) |
±0.0003(標準A光源) |
|
色度重復性 |
+/-0.0002（@標準A光源） |
+/-0.0002（@標準A光源） |
+/-0.0002（@標準A光源） |
+86 769-22667715/+86 13302611249 
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